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簡要描述：單分子檢測(SMD)及其分析是一個考察細胞系統(tǒng)內動力學變化以及物質相互作用的精妙方法。新的Leica TCS單分子檢測系列產品將TCS SP8共聚焦顯微鏡與來自PicoQuant的MD專業(yè)軟件和硬件*地整合在了一個系統(tǒng)中.
產品型號： TSC 徠卡
所屬分類：顯微鏡大全
更新時間：2024-03-19
共聚焦顯微鏡
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| 由一個*整合的系統(tǒng)控制全部的實驗 通過系統(tǒng)各個部分的*整合，用戶可以通過一個界面控制全部的實驗。專門的應用向導快速和方便地提供可重復的實驗結果。高度的自動化，提供了新的記錄策略。在線SMD數(shù)據(jù)顯示和交互反饋，保證了數(shù)據(jù)質量的嚴密控制。 | 即時的光譜和壽命信息－結合了更強大的能力 結合SP8X與光譜FLIM檢測，構成了可調節(jié)的，無光學濾片的FLIM系統(tǒng)。通過可調節(jié)激發(fā)光和優(yōu)化光譜范圍檢測，可以得到zui高質量的FLIM數(shù)據(jù)。利用方便的SMD FLIM向導，可以自動獲得FLIM激發(fā)和檢測堆。這對于分離多色樣品的熒光分離以及新染料的特征描述是非常有用的。 |
| 快速的結果 － 更好的數(shù)據(jù)可靠性 在線顯示重要的統(tǒng)計控制參數(shù)，如相關曲線、快速FLIM圖像、計數(shù)率、分子亮度或zui大分子計數(shù)數(shù)量，能在運行FCS或FLIM實驗過程中，連續(xù)評估數(shù)據(jù)質量。SMD數(shù)據(jù)可以在測量系列過程中就得到解釋。 | 在SMD檢測中具有zui大靈活性 由于通用的SMD原始數(shù)據(jù)格式，同一個數(shù)據(jù)文件可以有不同的分析方法。根據(jù)硬件和實驗設計，相關和壽命信息可以從一個單獨的測量中提取出來，得到有關樣品的zui大信息。FCS系統(tǒng)可以升級配備FLIM，反之也可以，可以達到zui大靈活的的FLCS配置。 |
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