偏光顯微鏡

簡要描述：奧林巴斯BX51-P是利用偏光識別樣品的不同特性的偏光系統顯微鏡。適用于各向同性、各向異性材料的鑒別，廣泛應用于礦物、化工產品，醫學、植物學等分析。

產品型號： BX51-P

所屬分類：奧林巴斯偏光顯微鏡

更新時間：2024-03-19

詳細說明：

UIS2物鏡觀察到的鮮明影像

能夠實現↓小光學失真的偏振光用物鏡ACHN-P、UPLFLN-P系列產品中選擇所需產品。UPLFLN-P系列物鏡是能夠用于微分干涉觀察和包括紫外線激發的熒光觀察的通用物鏡，能應對包含偏振光觀察的多種研究和檢查。
*EF值：平行尼科爾和正交尼科爾亮度比較，EF值越高光學失真越少，表明偏振光特性越好。

觀察影像實例

UPLFLN-P系列物鏡規格

ACHN-P系列物鏡規格

良好的操作性能和光學性能
操作簡便、觀察清晰的顯微鏡機體

*追求人機工程學的Y形框架，操作更為舒適，提高了觀察效率。↑大地降低了長時間觀察的疲勞度。視場數達到了22，與一般視場數為20的顯微鏡相比，觀察的范圍增寬了21%。此外，照明系統采用了12 V、100 W明亮的鹵素燈，能觀察明亮逼真的偏振光影像。

支持更高效的偏振光觀察的載物臺

帶有旋轉中心輸出機構的旋轉載物臺，樣品可以流暢旋轉。此外，每隔45°裝有的鎖定機構，提高了觀察效率。旋轉載物臺上裝有復式機械載物臺，能夠控制樣品的細微移動。

對應較高功能偏振光觀察的附件
偏振光性能優異的附件

全面改良了偏振光用聚光鏡和偏振光板的設計，提高了偏振光性能，實現了高EF值*、高對比度的偏振光觀察。
*EF值：平行尼科爾和正交尼科爾亮度比較，EF值越高光學失真越少，表明偏振光特性越好。

各種補償板的延遲測量范圍

補償板	測量范圍	主要用途
U-CTB厚型Berek	0～11,000nm	較大的延遲測量（R*＞3λ）。（結晶、高分子、纖維、光彈性失真等）
U-CBE Berek	0～1,640nm	延遲測量（結晶、高分子、纖維、生物體組織等）
U-CSE Senarmont	0～546nm	延遲測量（結晶、生物體組織等）對比度增強（生物體組織等）
U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ	0～55nm	微小延遲測量（結晶、生物體組織等）對比度增強（生物體組織等）
U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ	0～20nm	微小延遲測量（結晶、生物體組織等）對比度增強（生物體組織等）
U-CWE2 石英楔子	500～2,200nm	延遲的近似測量（結晶、高分子等）

*R表示延遲。
為提高測量精度，建議與干涉濾鏡45IF546一起使用。（U-CWE2除外）

鮮明的正像鏡影像和錐光鏡影像

簡單的操作就可以切換正像鏡和錐光鏡，并且能夠對焦錐光鏡影像。此外，采用了伯特蘭透鏡，即使是樣本的微小范圍，也能觀察到逼真的錐光鏡影像。

錐光鏡/正像鏡觀察單元

使用數碼照相機可以記錄保存數碼圖像

三目觀察筒可以連接數碼照相機。可以保存和記錄數碼影像，幫助創建檢查報告。可從畫面質量、功能、操作性等方面選擇所需的數碼照相機。奧林巴斯圖像分析軟件是專門為工業顯微鏡應用程序設計的，擁有直觀的操作菜單和軟件例行程序。用戶被授權使用全新的圖像分析和管理方案，以滿足特定應用程序的需要。

技術規格